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      BG9621型硅半导体辐射表面污染检测仪

      更新时间：2024-12-30

      访问量：1238

      简要描述：
      BG9621型硅半导体辐射表面污染检仪测是探测α和β射线及γ射线的辐射监测仪表，采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高，且具有自我诊]断功能、通信功能、存储等丰富的功能
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      BG9621型硅半导体辐射表面污染检测仪

      BG9621型硅半导体辐射表面污染检测仪功能描述

                   BG9621型是探测α和β射线及γ射线的辐射监测仪表，采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高，且具有自我诊]断功能、通信功能、存储等丰富的功能。

      BG9621型硅半导体辐射表面污染检测仪仪器特点

      ◎采用半导体探测器，不需定期交换探测器，经济实用

      ◎可进行量程广且精度高的测量，测量范围为0～99990 min

      ◎采用彩色有机EL显示屏，其画面明亮且宽视角，易于目视

      ◎测量值和时间可保存1200点

      ◎具有自我诊断功能

      ◎测量值可通过USB接口存储到计算机

       

        BG9621型硅半导体辐射表面污染检测仪 
         

      技术规范

       

      测定射线

      α射线，β射线，

      探测器

      硅半导体

      有效探测面积

      100cm2

      显示范围

      0～99990 min-1，0～9999000 counts，γ射线：BG～99.9mSv/h

      探测效率

      α射线241Am ≧20%，β射线90Sr-90Y ≧ 30%

      时间常数

      1，3，10 sec，自动

      趋式数据存储

      1200 点

      数据输出

      USB 接口

      电池寿命

      7 小时以上 ( 无显示)，6 小时以上 ( 连续显示)

      电源

      碱性电池5 号6 节，镍氢充电电池（另选）

      AC100～240 V，AC 适配器（另选）

      工作温度

      -5 ～ +45℃ / 23 ～ 113?F

      工作湿度

      ≤ 90 %RH　( 无结露）

      尺寸

      120(W)×56(H)×293(D) mm，4.7(W)×2.2(H)×11.5(D) in

      重量

      约 0.75 kg / 1.65 lb. ( 不含电池)

      依据标准

      IEC60325 (2002)

       

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